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文件名稱: | 近紅外成像光譜技術助力水稻穗腐病嚴重度精準監(jiān)測 |
公司名稱: | 江蘇雙利合譜科技有限公司 |
下載次數(shù): | 110 |
文件詳細說明: | |
應用方向:
在本研究中,高光譜成像技術(HSI)主要應用于水稻穗腐病(RSRD)的精準監(jiān)測與病害嚴重程度量化。通過結合近距離高光譜成像與化學計量學分析,HSI不僅能夠捕獲水稻穗粒的光譜特征,還能夠提供空間信息,從而實現(xiàn)對病斑的識別和分布可視化。該技術可用于水稻生長的不同階段,克服了傳統(tǒng)病害監(jiān)測方法在時間和空間上的局限性,使病害檢測更加穩(wěn)定和準確。研究中構建的水稻穗腐病指數(shù)(RSRI),能夠在多個生長階段保持良好的監(jiān)測性能,并為病害的早期預警提供科學依據(jù)。此外,高光譜成像技術還能應用于病害傳播動態(tài)監(jiān)測、作物育種篩選以及精準農業(yè)管理,為提高糧食安全與作物健康提供強有力的技術支持。
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